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Installation et mise en service de CLAP au laboratoire
par Tristan Beau - 23 février
Le 08 février 2023 la nouvelle machine de test sous pointes cofinancée par la région Ile-de-France, l’IN2P3 et le LPNHE a été mise en service.
Cette machine offre des performances de mesure des composants semi-conducteurs supérieures pouvant atteindre des précisions de l’ordre de 10 fA et 10 fF.
Le porte échantillon est régulé en température entre -55 et 200°C.
Les premiers essais avec des échantillons ATLAS/ITK sont encourageants.
La machine et ses périphériques font l’objet d’une création de plateforme régionale « Capteurs à la pointe » (CLAP) et d’un plateau technique IN2P3 en cours de labellisation.
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